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Gallium Nitride Materials and Devices XIX (2024)
Light-Emitting Devices, Materials, and Applications XXVIII (2024)
Oxide-based Materials and Devices XV (2024)
Nicolò Zagni,Manuel Fregolent, Andrea Del Fiol, Davide Favero, Francesco Bergamin,Giovanni Verzellesi,Carlo De Santi,Gaudenzio Meneghesso,Enrico Zanoni,Christian Huber,Matteo Meneghini,Paolo Pavan
Journal of Semiconductorsno. 3 (2024)
MICROELECTRONICS RELIABILITY (2023): 115132-115132
Gallium Nitride Materials and Devices XVIII (2023)
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M. Zenari, M. Buffolo,C. De Santi, J. Goyvaerts, A. Grabowski, J. Gustavsson, R. Baets,A. Larsson, G. Roelkens,G. Meneghesso,E. Zanoni,M. Meneghini
2023 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD)pp.91-92, (2023)
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Nicola Roccato,Francesco Piva,Carlo De Santi,Matteo Buffolo, Normal Susilo, Daniel Hauer Vidal,Anton Muhin,Luca Sulmoni,Tim Wernicke, Micheal Kneissl,Gaudenzio Meneghesso,Enrico Zanoni,
2023 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD)pp.81-83, (2023)
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D. Favero,C. De Santi, A. Stockman, A. Nardo, P. Vanmeerbeek, M. Tack,G. Meneghesso,E. Zanoni,M. Meneghini
MICROELECTRONICS RELIABILITY (2023): 115129-115129
Microelectronics Reliability (2023): 115133-115133
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