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IEEE DESIGN & TESTno. 3 (2024): 14-20
Shayesteh Masoumian,Roel Maes,Rui Wang, Karthik Keni Yerriswamy,Geert-Jan Schrijen,Said Hamdioui,Mottaqiallah Taouil
2023 IFIP/IEEE 31ST INTERNATIONAL CONFERENCE ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION, VLSI-SOCpp.171-176, (2023)
ARES '20: Proceedings of the 15th International Conference on Availability, Reliability and Securitypp.1-10, (2020)
M. Jenihhin, S. Hamdiou,M. Sonza Reorda,M. Krstic, P. Langendorfer,C. Sauer, A. Klotz,M. Huebner,J. Nolte,H. T. Vierhaus,G. Selimis,D. Alexandrescu,M. Taouil,G. J. Schrijen,J. Raik,L. Sterpone,G. Squillero,Z. Dyka
mag(2014)
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23
0
ISSE 2014 Securing Electronic Business Processespp.188-198, (2014)
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