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E. Rosseel,S. Dhayalan,A. Hikavyy,R. Loo,H. B. Profijt,D. Kohen,S. Kubicek,T. Chiarella,H. Yu,N. Horiguchi,D. Mocuta,K. Barla, A. V-Y Thean, G. Bartlett,J. Margetis,N. Bhargava,J. Tolle
SIGE, GE, AND RELATED MATERIALS MATERIALS, PROCESSING, AND DEVICES 7no. 8 (2016): 347-359
Diffusion and defect data, solid state data Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena (2014): 16-19
SIGE, GE, AND RELATED COMPOUNDS 6 MATERIALS, PROCESSING, AND DEVICESno. 6 (2014): 977-987
H. B. Profijt, W. M. M. Kessels
ECS transactionsno. 13 (2013): 23-34
ATOMIC LAYER DEPOSITION OF NANOSTRUCTURED MATERIALSpp.131-157, (2012)
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