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F. Gozzo, H. Berger, I. Collins,G. Margaritondo,W. Ng, A. Ray-Chaudhuri,S. Liang,S. Singh, F. Cerrina
F. Gozzo,M. Marsi,H. Berger,G. Margaritondo, A. Ottolenghi,A. K. Ray-Chaudhuri,W. Ng,S. Liang,S. Singh, J. T. Welnak, J. P. Wallace,C. Capasso,
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0
C. Capasso, W. Ng,A.K. Ray-Chaudhuri,S.H. Liang,R.K. Cole,Z.Y. Guo,J. Wallace, F. Cerrina, J. Underwood,R. Perera,J. Kortright,G. De Stasio,
MATERIALS RELIABILITY IN MICROELECTRONICS III (1993): 449-454
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