磁制冷材料钆硅锗系合金中的杂质元素的ICP-AES分析方法的研究

研究建立了ICP-AES同时测定磁制冷材料钆硅锗系合金中Mo,Mn,Al,V,Ni,Cu,Ga,Fe,Ca(含量范围为质量分数0.1%～1%)9种杂质元素的分析方法。方法的检出限为0.003～0.1μg.ml-1,测定下限为0.02～0.5μg.ml-1,回收率在94%～108%,对于杂质质量分数为0.1%,0.5%,1.0%的样品,其RSD分别为0.40%～2.6%,0.52%～1.1%,0.67%～1.3%,结果表明该方法的精密度和准确度均满足微量分析的要求。