一种基于时-频域计算的ADC动态参数测试方法

Microelectronics(2008)

引用 23|浏览1
暂无评分
摘要
针对传统加窗、相干采样等方法准确度不够高或条件苛刻难以实现的缺点,提出了采样后相干方法测试ADC的动态参数。该方法能很好地抑制频谱泄漏的影响;另外,对频域内计算信号功率易受栅栏效应影响的问题,提出了采用信号重构的方法恢复测试信号,然后在时域和频域分别计算信号功率和噪声功率的时-频域计算方法。给出的例子证明了这种方法优于传统方法,具有很高的准确度,而且易于实现。
更多
查看译文
关键词
Coherent-after-sam-pling,Spectral leakage,Picket-fence effect,Dynamic parameter test,A/D converter
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树,研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要