~(182)Taγ射线发射概率的测定

~(182)Ta发射低能和高能两组γ射线,半衰期适中,是HPGe探测器效率刻度的合适标准源之一。本工作通过反应堆活化得到了~(182)Ta放射源,制备了VYNS薄膜源。活度由4πβ+4πγ计数相加装置绝对测量,γ射线的发射率由已刻度效率曲线的HPGe探测器测量,从而得到了γ射线绝对发射概率,不确定度为0.6～1.5%。