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Design of system-on-a-chip test access architectures under place-and-route and power constraints

DAC, pp.432-437, (2000)

引用111|浏览27
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摘要

Test access is a difficult problem encountered in the testing of core-based system-on-a-chip (SOC) designs. Since embedded cores in an SOC are not directly accessible via chip inputs and outputs, special access mechanisms are required to test them at the system level. We propose test access architectures based on integer linear programmin...更多

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