23.4nm软X射线多层膜反射镜研制

SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS(2011)

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摘要
为了满足类氖-锗X射线激光研究的需要,设计制备了23.4 nm软X射线多层膜反射镜.依据多层膜选材原则并考虑材料的物理化学特性选择新的材料Ti与Si组成材料对.设计优化材料多层膜的周期厚度(d),材料比例(Γ),周期数(N),计算出Ti/Si反射率曲线.通过实验优化各种镀膜工艺参数,制备出了23.4 nm的Ti/Si多层膜反射镜.利用X射线衍射仪和软X射线反射率计对Ti/Si多层膜结构和反射率进行枪测,测量结果为Ti/Si多层膜反射镜中心波长λ0=23.2nm,正入射峰值反射率为R=25.8%.将Ti/Si多层膜反射镜与软X射线波段常用的Mo/Si多层膜反射镜相比,在23.4 nm处,Ti/Si多层膜反射镜的反射率提高10%,而带宽减小1.8 nm,光学性能显著提高.
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关键词
Extreme ultraviolet,Multilayer mirror,Magnetron sputtering,X-ray diffractometer,Reflectometer
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