Study of mechanisms responsible for the efficiency degradation of the III-nitrides light emitting diodes
Scientific and Technical Journal of Information Technologies, Mechanics and Optics(2015)
摘要
УДК 621.382.038 ИЗУЧЕНИЕ МЕХАНИЗМОВ, ОТВЕТСТВЕННЫХ ЗА ДЕГРАДАЦИЮ ЭФФЕКТИВНОСТИ СВЕТОДИОДОВ НА ОСНОВЕ НИТРИДОВ ТРЕТЬЕЙ ГРУППЫ Н.М. Шмидт, А.С. Усиков , Е.И. Шабунина, А.Е. Черняков, С.Ю. Курин, Ю.Н. Макаров , Х.И. Хелава, Б.П. Папченко а ФТИ им. А.Ф. Иоффе, Санкт-Петербург, 194021, Российская Федерация b Нитридные кристаллы Inc-DP, Дир Парк, NY 11729, США с Университет ИТМО, Санкт-Петербург, 197101, Россия d ООО «Группа компаний «Нитридные кристаллы», Санкт-Петербург, 194156, Российская Федерация Адрес для переписки: Natalia. Shmidt@mail.ioffe.ru Информация о статье Поступила в редакцию 04.12.14, принята к печати 20.12.14 doi: 10.17586/2226-1494-2015-15-1-46-53 Язык статьи – русский Ссылка для цитирования: Шмидт Н.М., Усиков А.С., Шабунина Е.И., Черняков А.Е., Курин С.Ю., Макаров Ю.Н., Хелава H.И., Папченко Б.П. Изучение механизмов, ответственных за деградацию эффективности светодиодов на основе нитридов третьей группы // Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики. 2015. Том 15. No 1. С. 46–53
更多查看译文
关键词
light emitting diodes based on III-nitrides,system of extended defects,mechanisms of defects generation,degradation
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树,研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要