Study of mechanisms responsible for the efficiency degradation of the III-nitrides light emitting diodes

N M Shmidt, B P Papchenko, H Helava,Yu N Makarov, S Yu Kurin,A E Chernyakov, E I Shabunina,A S Usikov

Scientific and Technical Journal of Information Technologies, Mechanics and Optics(2015)

引用 4|浏览15
暂无评分
摘要
УДК 621.382.038 ИЗУЧЕНИЕ МЕХАНИЗМОВ, ОТВЕТСТВЕННЫХ ЗА ДЕГРАДАЦИЮ ЭФФЕКТИВНОСТИ СВЕТОДИОДОВ НА ОСНОВЕ НИТРИДОВ ТРЕТЬЕЙ ГРУППЫ Н.М. Шмидт, А.С. Усиков , Е.И. Шабунина, А.Е. Черняков, С.Ю. Курин, Ю.Н. Макаров , Х.И. Хелава, Б.П. Папченко а ФТИ им. А.Ф. Иоффе, Санкт-Петербург, 194021, Российская Федерация b Нитридные кристаллы Inc-DP, Дир Парк, NY 11729, США с Университет ИТМО, Санкт-Петербург, 197101, Россия d ООО «Группа компаний «Нитридные кристаллы», Санкт-Петербург, 194156, Российская Федерация Адрес для переписки: Natalia. Shmidt@mail.ioffe.ru Информация о статье Поступила в редакцию 04.12.14, принята к печати 20.12.14 doi: 10.17586/2226-1494-2015-15-1-46-53 Язык статьи – русский Ссылка для цитирования: Шмидт Н.М., Усиков А.С., Шабунина Е.И., Черняков А.Е., Курин С.Ю., Макаров Ю.Н., Хелава H.И., Папченко Б.П. Изучение механизмов, ответственных за деградацию эффективности светодиодов на основе нитридов третьей группы // Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики. 2015. Том 15. No 1. С. 46–53
更多
查看译文
关键词
light emitting diodes based on III-nitrides,system of extended defects,mechanisms of defects generation,degradation
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树,研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要