弥散介质遮蔽表面的红外成像测温方法
Laser & Optoelectronics Progress（2016）
摘要
弥散介质遮蔽表面的红外成像精确测温问题可归结为遮蔽物对热像仪工作波段光学厚度的准确测算.以细水雾遮蔽下的目标红外成像测温为例,通过理论和实验分析,确定具体的测量方法为通过粒子测量系统可以确定弥散介质的几何参数(粒度、浓度、厚度等);结合米氏散射理论计算获得其光学衰减系数;采用朗伯比尔定律计算弥散介质的透射率;通过设定红外热像仪中的大气透射率参数完成对待测目标的准确的红外成像测温.实验证明,该方法可准确测定弥散介质遮蔽表面的温度.而对实际应用问题,提出了通过估算的方法来确定大气透射率.
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