X射线荧光光谱法测试金铂饰品中铑覆盖层厚度及主体元素Jian Long,Limin Wang,Peiying HuangGold(2015)引用 0|浏览1暂无评分摘要采用X射线荧光光谱法,通过对比标准铑覆盖层片、标准金合金片和标准铂合金片,在非破坏性的前提下,同时测定金、铂饰品中的铑镀层厚度及主体元素。采用该方法的测试结果与经典库仑法、ICP差减法和火试金法的测试结果进行了对比验证,该方法测试结果具有较高的准确度。更多查看译文AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要