强干扰下的196Au和44Scm放射性活度测量装置研制

在197 Au(n,2n)196 Au和45 Sc(n,2n)44 Scm的中子谱平均截面测量中,196 Au和44 Scm活度低、半衰期短,受其(n,γ)活化产物干扰严重.为准确测量196 Au和44 Scm,放射性活度测量装置基于反符合原理采取了以下技术措施:首先,使用液闪测量体系探测198 Au和46 Sc衰变发射的β-射线,利用β-射线反符合抑制康普顿本底;其次,使用环形NaI晶体构建便携式的反康普顿谱仪,利用反康普顿原理抑制康普顿本底.该活度测量装置利用数字谱仪将上述两套反符合系统融合为一,取得了良好实验效果.对196 Au和44 Scm的MDA分别降低到原来的16.7％和36％,在0.2 MBq 198 Au和46 Sc的同位素强干扰条件下,MDA分别小于0.7 Bq和0.3 Bq.