谷歌浏览器插件
订阅小程序
在清言上使用

Evaluación De La Fiabilidad De Microprocesadores COTS Mediante Las Infraestructuras De Depuración On-Chip

Revista de I + D Tecnológico(2017)

引用 0|浏览1
暂无评分
摘要
Este artículo presenta una herramienta de inyección de fallos y la metodología para la realización de campañas de inyección de Single-Event-Upsets (SEUs) en microprocesadores Commercial-off-the-shelf (COTS). Este método utiliza las ventajas que ofrecen las infraestructuras de depuración de los microprocesadores actuales, además del depurador estándar de GNU (GDB) para la ejecución y depuración de los programas de pruebas. Los experimentos desarrollados sobre microprocesadores reales, así como en las máquinas virtuales, demuestran la viabilidad y la flexibilidad de la propuesta como una solución de bajo costo para evaluar la fiabilidad de los microprocesadores COTS
更多
查看译文
关键词
commercial-off-the-shelf (cots),depuración integrada en el chip,efectos de la radiación,fiabilidad de microprocesadores,inyección de fallos,errores lógicos
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树,研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要