Исследование Доменных Структур Магнитных Пленок С Помощью Магнитно-Силовой Микроскопии

Методами магнитно-силовой микроскопии исследованы два различных типа образцов: тонкие пленки металлов и пленки ферритов-гранатов. Отмечено, что в гранатовых пленках магнитно-силовая микроскопия позволяет судить лишь о доменной структуре приповерхностного слоя. Рассмотрены вопросы, связанные с проведением измерений во внешних магнитных полях, влиянием магнитного поля зонда на исследуемую доменною структуру, а также с использованием поляризационной магнитооптики в комбинации с магнитно-силовой микроскопией.