Поляризационно-чувствительная терагерцовая спектроскопия анизотропных кристаллов

В работе предложен метод исследования ТГц свойств анизотропных материалов без оптической активности, учитывающий чувствительность систем электрооптической регистрации импульсных ТГц спектрометров к поляризации ТГц излучения. Для этого проанализирована зависимость чувствительности системы регистрации на основе кристаллов типа цинковой обманки со срезами (110) и (111) от поляризации терагерцового и зондирующего лазерного излучения. Обнаружено, что одинаковая чувствительность может быть достигнута для двух ортогональных поляризаций терагерцового излучения. Так, для ТГц излучения линейно поляризованного под углами ±45° относительно осей z и (−211) кристаллов-детекторов со срезами (110) и (111), соответственно, достигается одинаковая чувствительность со значением √2 2 от максимальной. Это справедливо для излучения зондирующего лазера, поляризованного под углами 0° или 90°.