К Вопросу Воздействия Ионизирующего Излучения Космического Пространства На Электронную Компонентную Базу Космических Аппаратов Информационного Обеспечения. Одиночные Эффекты

Статья содержит результаты анализа одиночных эффектов (ОЭ), вызываемых ионизирующими излучениями космического пространства, в интегральных микросхемах (ИМС) в составе аппаратуры, устанавливаемой на космических аппаратах информационного обеспечения, которые функционируют на круговых солнечно-синхронных орбитах. Для решения поставленных задач проводится расчёт частоты и вероятности одиночных сбоев и отказов в ИМС с различными уровнями стойкости. The article provides the analysis of single event effects caused by space ionizing radiation in integrated circuits in equipment onboard of information spacecraft in circular solar synchronous orbit. The calculation of frequency and probability of single upsets and failures in the integrated circuits with various hardness levels is given.