一种用于硅基高速调制器测试的有源Bias-T电路

CHEN Bichao,ZHAO Heng

Optical Communication Technology（2023）

联合微电子中心有限责任公司

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摘要

为了解决传统T型偏置器(Bias-T)在硅基高速调制器测试过程中,因直流(DC)源导通/截止或者链路产生热插拔时容易导致高速信号源出现不可逆的损坏问题,首先分析了问题产生的原因和常规解决方法的优缺点,然后设计了一种用于硅基高速调制器测试的有源Bias-T电路.该电路在传统Bias-T基础上利用微波放大器芯片中晶体管的特性来隔离直流源在馈电导通/截止或者热插拔时产生的冲击电压.最后,对有源Bias-T电路进行了仿真设计和测试.测试结果表明:该电路带宽大于25 GHz,脉冲电压为±0.055 V左右,消除了信号源设备损坏的风险.

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关键词

silicon-based high-speed modulator,hot swap,active Bias-T,signal suppression

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