石墨浆做背接触层的CdTe薄膜太阳电池的导纳谱表征何绪林,张静全,冯良桓,武莉莉,李卫,曾广根,雷智,黎兵,郑家贵中国科学(技术科学)(2010)被引用6|浏览18摘要本文测试了掺杂石墨浆作背接触层的CdTe薄膜太阳电池的导纳谱,计算得到电池中存在的影响电池性能的缺陷能级及其俘获截面.掺杂石墨浆作背接触层的CdTe薄膜太阳电池中存在三个缺陷能级,其位置E1-Ev分别约为0.34,0.46和0.51 eV,对应的俘获截面分别为2.23x10(-16),2.41x10(-14),4.38x10(-13)cm2.更多PDF原文链接引用加入学术空间AI 理解论文数据免责声明页面数据均来自互联网公开来源、合作出版商和通过AI技术自动分析结果,我们不对页面数据的有效性、准确性、正确性、可靠性、完整性和及时性做出任何承诺和保证。若有疑问,可以通过电子邮件方式联系我们:report@aminer.cnAI 解读一键生成论文网页Chat Paper正在生成论文摘要