基于理想模型的CdZnTe探测效率模拟计算方法研究

使用传统的蒙特卡罗方法计算CdZnTe探测器探测效率时存在效率损失。为了将无源效率刻度技术应用于CdZnTe探测器,提出了基于理想模型（仅考虑光子与探测器晶体和结构材料相互作用过程）的CdZnTe全能峰源探测效率计算方法。使用 152 Eu标准源样品验证了计算方法的可靠性,结果表明,计算结果与参考值的偏差不大于5%。该方法不需要考虑CdZnTe晶体内载流子不完全收集的复杂过程就可以得到可靠的效率计算结果,可操作性强。