基于数值解析方法的γ能谱无源效率刻度方法研究

以理论分析和数值计算为基础，建立了一种基于数值解析的无源效率刻度方法。构建了?3.8 cm×3.8 cm的LaBr3(Ce)和NaI(Tl)探测器几何模型，分析了γ射线与探测器的作用路径、源与探测器相对位置和峰总比等因素，并提出非同轴点源本征效率计算公式。据此，将点源效率的数值计算拓展至面源和体源效率计算，以辛普森算法为基础对数值积分进行求解，并利用数值解析公式计算各向同性的137Cs点源、面源和体源探测效率，与蒙特卡罗模拟结果相比相对偏差不超过3.5%；对不同位置处点源和不同尺寸面源、体源效率进行计算，与蒙特卡罗模拟结果相比相对偏差不超过4%。结果表明，基于数值解析的无源效率刻度方法具有快速的优势，可代替实验测量或者蒙特卡罗（Monte Carlo,MC）软件仿真效率刻度方法。该方法能推广至不同形状核辐射探测器效率刻度，为探测器效率刻度提供了新的途径。