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Solid-state electronics (2024): 108883-108883
Electronic device failure analysisno. 3 (2023): 23-30
Alexander Maggiacomo,Rabindra Pahari, Torsten Schaefer, Gregory Billus, Siddharth Shekar,Satish Kodali,F. Beaudoin,Aaron M. Sinnott
Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis (2023)
2023 INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMULATION OF SEMICONDUCTOR PROCESSES AND DEVICES, SISPADpp.349-352, (2023)
Solid-State Electronics (2023): 108626
arXiv (Cornell University) (2022)
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