磁盘存储测试技术研究

研究了测试海量存储系统中磁盘阵列IOPS、数据传输率两项性能指标的技术与方法,提出了针对高性能磁盘阵列的并行测试技术,并使用此方法实现了对最新研制的高性能磁盘阵列的评测。通过研究影响单个磁盘性能指标的各项因素,并借助实验对其进行量化分析,最终实现了对整个磁盘阵列的性能评测。研究了影响磁盘阵列整体性能的关键瓶颈点,并给出了各项测试结果的合理性证明。