紫外ICCD面均匀性测试技术研究

Yu-huan ZHAO,Feng YAN,Yue ZHOU,Yong-xin SUI,Huai-jiang YANG,Jian-lin CAO

Guangxue Jishu/Optical Technique（2008）

引用 0|浏览3

暂无评分

摘要

以辐射度学为理论基础,研究了紫外ICCD(UV-ICCD)面的响应均匀性测试技术.论述了200～300nm UV-ICCD面均匀性的测试方案.使用入射口径为100μm的光谱仪对UV-ICCD靶面处的均匀性进行了测试.测试结果表明,靶面处辐照度场的不均匀性不高于1.6%.在对靶面处的均匀性进行测试的基础上,对UV-ICCD面的均匀性进行了实际测量,并进行了不确定度分析.结果表明,该方案可应用于UV-ICCD光电探测器件的面均匀性测量.

查看译文

关键词

Standard deuterium lamp,Surface uniformity,Ultraviolet ICCD

AI 理解论文

溯源树

样例

生成溯源树，研究论文发展脉络

Chat Paper

正在生成论文摘要