Extraction method of the interface and nitride trap density in nitride-based charge trapped flash memories using an optical response (Electron devices: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))

S. Y. Lee, J. U. Lee,S. H. Seo, K. S. Roh, G. C. Kang, K. Y. Kim, C. M. Choi, K. J. Song, S. R. Park, K. C. Jeon, Jung Ho Park, Lee Choonghyun,K. S. Min, D. J. Kim, Dong-Hyun Kim, D. M. Kim

siam international conference on data mining（2007）

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