ランダムアクセススキャン : テスト時消費電力,テストデータ量,テスト時開削減法(VLSI設計とテスト)Dong Hyun Baik,Kewal K. Saluja,誠司 梶原Distributed Computing(2004)引用 23|浏览16暂无评分AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要