基于LabVIEW的露点校验系统设计
Chinese Journal of Electron Devices（2017）
摘要
为实现露点测量设备的高效校验,在分流法原理基础上设计了一套基于LabVIEW的露点校验系统,本系统通过发生较为精准的露点并采集送检设备的露点测量信息,实现送检设备的准确性校验.本系统基于LabVIEW软件平台设计实现露点校准系统的上位机功能,包括露点控制、协议设定、数据记录等;由下位机实现流量控制、信号采集反馈以及数据传输等功能.该系统已应用于实际露点测量设备的校验,结果表明可发生露点范围-70℃~20℃,精度优于0.15℃.
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