密集环境下无源超高频系统RFID标签识别性能研究
Modern Electronics Technique（2019）
摘要
密集环境中标签间互耦效应会对标签识别性能产生重要影响.该文以密集环境下超高频射频识别系统中的无源双标签为研究对象,基于天线散射理论并利用高频电磁场仿真软件HFSS分析不同标签间距下互耦模型的输入阻抗,以及标签天线在不同负载条件下的单站雷达散射截面RCS,得到密集环境下标签天线的最大识别距离,并通过实验验证了计算结果.研究结果将有助于优化标签天线设计,提高密集环境下的标签识别性能.
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