中子应力谱仪双聚焦 Si 单色器设计、模拟与测试

本文对中国先进研究堆中子应力谱仪使用的双聚焦 Si单色器进行了设计、模拟和测试。采用SIM RES模拟程序确定了单色器垂直曲率及Si片厚度的最优值，并得到品质因数与散射角、单色器水平曲率和波长的依赖关系。实际测试结果表明，与平板Cu单色器相比，使用双聚焦Si单色器样品处中子强度提高了15倍。