175Hf的半衰期测量
Journal of Nuclear and Radiochemistry（2017）
摘要
175Hf现有的半衰期数据偏少且分歧较大,对核参数的准确使用不利.本实验通过加速器质子束流轰击175Lu,并使用HDEHP萃淋树脂进行离子交换,得到无载体无181 Hf干扰的高纯度175Hf液体测量源,对其中的杂质65Zn与56Co的去污因子分别为5.2×10 3与2.3×103;引入一固定位置的监督源137Cs与175 Hf进行了40 d的连续测量,对343 keV以及661 keV γ射线计数率的比值关于测量时间进行线性拟合,得到175 Hf的半衰期为(70.73±0.25)d,并对测量结果进行了相关检验.
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