新型3D合金屏蔽效能的MCNP模拟

Journal of Jilin University(Science Edition)（2020）

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摘要

用Monte Carlo程序(MCNP)模拟研究不同掺杂组分与不同掺杂质量分数合金对低能X射线谱的屏蔽效能.模拟结果表明:合金的屏蔽效能与掺杂组分原子序数呈正相关,与掺杂质量分数呈正相关(ΔZ>0)或负相关(ΔZ<0);ΔZ绝对值越大,合金的屏蔽效能变化越大,且变化幅度与掺杂质量分数呈正相关;TaW合金的屏蔽效能最好,掺杂质量分数的变化对其屏蔽性能影响最小;在低能能谱范围内,不同能量X射线透射率的MCNP模拟结果与实验结果基本一致.

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