低品位菱镁矿摩擦电选提纯的试验研究

为了有效利用低品位菱镁矿,同时降低菱镁矿分选提纯成本,拟采用摩擦电选对低品位菱镁矿进行分选提纯的试验研究.试验借助X线荧光光谱仪以及扫描电子显微镜对低品位菱镁矿做基础分析后,再采用较纯菱镁矿与石英(品位分别大于47.00％和99.00％)分别研究其与不同塑料颗粒球碰撞摩擦之后的荷电性质.按照菱镁矿与石英的质量比为6:1配制MgO品位为40.80％的低品位菱镁矿作为模拟物料完成分选试验.研究结果表明:菱镁矿和石英与PVC颗粒球摩擦之后,呈现出明显荷电差异,菱镁矿表面荷电量为+3.42 nC/g,而石英表面荷电量为-5.56 nC/g.在自制电选设备中,采用粒度为3 mm的PVC颗粒球作为填充摩擦介质;试验电压为15 kV,气流流量为60 m3/h,给料速度为4.5 g/s,获得MgO品位为45.09％,回收率为68.40％的分选效果.摩擦电选可以实现对低品位菱镁矿中SiO2的脱除.