包覆层厚度测试及分析

激光测量壳体包覆层厚度比传统的包覆层厚度测量有很多优点,本文介绍了激光测量包覆层厚度的方法.该方法用于测量壳体内壁涂敷的包覆层厚度,壳体内壁包覆层太薄或太厚都会影响器件的正常工作,包覆层的厚度和密度决定了元件的性能,而包覆层的厚度和密度均可通过精确测量其尺寸和质量来获得,因此,精确测量包覆层尺寸至关重要.因此,应对包覆层的厚度进行测量,以免影响其正常工作.