基于自适应ROI算法的光斑中心检测
Modular Machine Tool & Automatic Manufacturing Technique（2021）
摘要
针对光照致使光斑图像退化无法准确检测光斑中心的不足,提出了一种自适应ROI提取算法对光斑中心进行准确测量.首先对光斑图像进行结构相似度(SSIM)计算得到自适应ROI,然后将提取到的ROI进行类间方差最大化(Otsu)的图像分割得到光斑二值图,其次对光斑二值图进行圆拟合,最后得到光斑中心坐标.实验结果表明,在平均像素强度低于240时,该算法能较好适应光照影响且计算误差均在0.05％以内,具有较高的精度,能够适用于实际工况下微小位移的测量.
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