具有缺陷地结构的低耦合阵列天线设计
Journal of Hebei University of Technology（2021）
摘要
基于缺陷地结构设计了一款低耦合阵列天线,该天线工作频率为5.8 GHz,整体尺寸为45 mm×55 mm×1.52 mm.缺陷地结构呈左右两侧带有锯齿的条状,组成2×1阵列的形式加载至接地表面.在天线阵元边到边间距为0.0502λ0的前提下,天线在5.8 GHz处的耦合度降低了28.8 dB,主瓣增益提升了0.3 dB,同时天线尺寸减小了0.57 mm,包络相关系数低于0.03,满足S11
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