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在清言上使用

Simulations of Vertical GaN Diode Performance under Electron Beam Radiation Exposures

A. Colon, W. Cowan,B. Doyle,C. Glaser, M. Jasica, G. Pickrell, M. Van Heukelom, W. Wampler

Transactions of the American Nuclear Society - Volume 121(2019)

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