部分再構成したB0→D*+l‐νl崩壊を用いたB0寿命とB0B0振動周波数の測定
Bernard Aubert, R. Barate, D. Boutigny,Fabrice Couderc,Y. Karyotakis,J. P. Lees,V. Poireau, V. Tisserand,Amina Zghiche, E. Grauges, A. Palano,M. Pappagallo,Alexis Pompili,J. C. Chen,N. D. Qi, G. Rong, P. Wang,Y. S. Zhu,G. Eigen, I. Ofte, B. Stugu,G. S. Abrams,Marco Battaglia, A. B. Breon,D. N. Brown, J. Button-Shafer,Robert N. Cahn, E. Charles, C. T. Day, M. S. S. Gill,Andrei Gritsan, Y. Groysman,R. G. Jacobsen,R. W. Kadel,J. A. Kadyk,L. T. Kerth, Kolomensky Yu.G., G. Kukartsev, G. Lynch,Lluisa-Maria Mir Physical Review D（2006）
AI 理解论文
溯源树
样例
