SF6放电的发射光谱特性分析与放电识别

该文通过实验模拟六氟化硫(SF6)气体绝缘电气设备的三种常见放电缺陷(电晕放电、火花放电以及沿面放电),并采用光谱仪检测上述放电缺陷下的200～1037nm波段范围内的发射光谱.结果表明,电晕放电的发射光谱主要由带状光谱(OH自由基谱带,SF6和SFx分子谱带)和微弱的F原子线状谱组成;火花放电的发射光谱在电晕放电的基础上新增了硫原子、硫离子和氟离子的线状光谱;沿面放电的发射光谱与火花放电的轮廓相似,但由于沿面故障模拟模型中引入了铜元素,因此发射光谱中出现了铜原子和铜离子的线状谱.最后,根据电晕放电、火花放电和沿面放电的光谱特性差异,定义了两个特征物理量:Iratio和|I′nor(323.371nm)|,设计相应的放电识别算法.该算法的正确率为94.33％,可有效地识别实验中的SF6放电缺陷.