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Effects of bias annealing in normally-off GaN MOS-HFET

Takuma Nanjo, Hidetoshi Koyama, A. Imai,Tatsuro Watahiki,Mikio Yamamuka

IEICE Technical Report; IEICE Tech. Rep.（2019）

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关键词
normally-off,mos-hfet
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
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