Development of a Test Fixture for Measuring Performances of Microwave Circuits

Jongsik Lim, Hyung-Sik Park, Craig Jin,Sang-Min Han,Dal Ahn

Journal of the Korea Academia Industrial Cooperation Society(2023)

引用 0|浏览0
暂无评分
摘要
본 논문에서는 무선시스템에 사용되는 마이크로파 회로의 성능을 측정하기 위한 마이크로파 테스트 픽스춰의 개발에 대하여 기술한다. 마이크로파 회로의 성능을 측정하기 위해서는, 프로토타입 회로의 입출력단에 동축형 RF컨넥터를 납땜하고, 벡터 회로망 분석기라는 장비를 이용하여 S-파라미터 특성을 측정하는 것이 기본이다. 그런데 어떤 회로에 RF컨넥터가 납땜으로 부착되면 컨넥터의 교체나 수리가 필요할 경우에, 기존의 납땜 부위를 제거해야 하는 불편이 매우 크다. 이에 본 연구에서는 컨넥터의 납땜 없이도 초고주파 회로의 성능을 편리하게 측정할 수 있는 테스트 픽스춰를 개발한다. 개발된 픽스춰에는 탈부착이 가능한 RF컨넥터가 입출력 단자에 기계적으로 체결되어 있다. 따라서 마이크로파 신호의 전달이 납땜 대신 기계적 접촉 방식으로 이루어지므로 매우 편리하고 빠르며 반복 측정이 가능하다. 개발된 픽스춰를 이용하면 초고주파 회로의 성능 측정에 소요되는 시간이 종래의 컨넥터 납땜 방법에 비하여 1/40 이하로 줄어든다.
更多
查看译文
关键词
test fixture,microwave,measuring performances
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树,研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要