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U-Net Implementation for High Throughput Grain Boundary Detection in Bright Field TEM Micrographs: Toward In Situ Grain Growth Studies

Matthew J. Patrick, J. N. Eckstein, Javier Fernández López, J Hunt Alan, Silvia Toderas,Stacey Levine, K. Barmak

Microscopy and Microanalysis（2023）

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关键词
grain growth studies,bright field tem micrographs,u-net
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