Cross-evaluation of critical dimension measurement techniques

Timothée Choisnet, Abdelali Hammouti, Vincent Gagneur,Jérôme Reche, Guido Rademaker, Guillaume Freychet, Guillaume Jullien, Julien Ducote,Patrice Gergaud, Delphine Le Cunff

Journal of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrology(2024)

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