Анализ Влияния Температуры На Импульсную Электрическую Прочность КМОП-микросхем

Приведены результаты экспериментальных исследований образцов КМОП-микросхем CD4001BCN_NL на импульсную электрическую прочность (ИЭП) при двух значениях температуры окружающей среды +25 и +125°C. Анализ полученных результатов показал, что температура среды влияет на значения показателей импульсной электрической прочности исследуемой микросхемы. Величина и характер изменения ИЭП может быть описаны моделью теплового повреждения p–n-перехода.