Использование Вероятностных И Нечетких Моделей При Моделировании Радиационных Отказов БИС

Предложен подход к оценке взаимосвязи вероятностных и нечетких моделей для моделирования функциональных отказов БИС, которые основаны на нечетком цифровом автомате Брауэра и топологических вероятностных моделях оценки работоспособности цифровых устройств. В первом случае поведение БИС определяется изменением детерминированных статических и динамических параметров, во втором – статистическим разбросом пороговых уровней отказа.