Na2O-Ga2O3-SiO2系のガラス化領域を調べ,それらのガラスの密度,Vickers硬度およびSiKβX線発光スペクトルの測定を行なった。Na2O-Ga2O3-SiO2系のガラス化領域は,Na2O-Al2O3-SiO2系のガラス化領域とくらべてきわめて広く,最大Ga2O3含有量は50mol%であった。平均原子容,Vickers硬度は,Ga/Na比が1に相当する組成で異常変化を示した。この異常変化はNa2O-Al2O3-SiO2系ガラスについて,Al/Na比が1の組成で報告されているものと類似している。SiKβX線発光スペクトルの化学シフトおよび半値幅は,Ga2O3を導入していくことにより,GalNa 1の組成域ではふたたび増大した。これらの結果は,Ga3+イオンがGa/Na≦1ではGaO4-Na+構造単位を形成してガラス網目構造中へ入り,ナトリウムケイ酸塩ガラス中に存在する非橋かけ酸素を橋かけ酸素に変えることを示しているものと思われる。