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清 二川 | AMiner学者主页 | AMiner
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1
レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用 : 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)
清 二川
,
将嗣 山下
,
徹 松本
,
克介 三浦
,
義博 御堂
,
幸治 中前
2011
引用:23
引用
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加入学术空间
2
C-12-66 走査レーザSQUID顕微鏡によるシミュレーションを活用したVLSI故障絞り込み法(C-12.集積回路,一般セッション)
克介 三浦
,
清 二川
,
幸治 中前
2010
引用:23
引用
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加入学术空间
3
CT-2-1 LSI不良・故障解析技術の現状とレーザSQUID顕微鏡の適用(CT-2. SQUID先端検査技術の実用化を目指して,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
清 二川
,
彰二 井上
,
克介 三浦
,
幸治 中前
2008
引用:22
引用
AI阅读
加入学术空间
4
LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー
清 二川
2007
引用:23
引用
AI阅读
加入学术空间
5
C-12-32 LSI故障診断用走査レーザSQUID顕微鏡観測画像のシミュレーション(C-12.集積回路ABC,一般講演)
克介 三浦
,
幸治 中前
,
清 二川
2006
引用:23
引用
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加入学术空间
6
レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
将嗣 山下
,
晃道 川瀬
,
知行 大谷
,
清 二川
,
政吉 斗内
2005
Combinatorial Pattern Matching(2005)
引用:23
引用
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加入学术空间
7
レーザーテラヘルツ放射顕微鏡の開発とLSI故障解析への応用 (特集:最近のテラヘルツ技術の動向)
将嗣 山下
,
清 二川
,
政吉 斗内
2005
引用:23
引用
AI阅读
加入学术空间
8
作りこみ欠陥を有する完成チップの走査レーザSQUID顕微鏡による観測(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
哲哉 酒井
,
清 二川
2005
Combinatorial Pattern Matching(2005)
引用:21
引用
AI阅读
加入学术空间
9
CS-11-3 レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡とLSI不良解析への応用(CS-11. ミリ波・テラヘルツ波技術の新展開, エレクトロニクス1)
将嗣 山下
,
晃道 川瀬
,
知行 大谷
,
清 二川
,
政吉 斗内
2005
引用:23
引用
AI阅读
加入学术空间
10
3-4 不良作り込みICチップを用いた走査レーザSQUID顕微鏡での故障個所絞り込み可能性の検討(セッション3 LSIの故障解析-2)(日本信頼性学会第17回秋季信頼性シンポジウム報告)
清 二川
,
哲哉 酒井
2004
引用:22
引用
AI阅读
加入学术空间
11
2-3 走査レーザSQUID顕微鏡による256MDRAMの観測(日本信頼性学会第12回研究発表会発表報文集)
清 二川
,
哲哉 酒井
2004
引用:23
引用
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加入学术空间
12
[4-3]LSIエレクトロマイグレーションの寿命分布に関する一考察(3.各セッションの報告 日本信頼性学会 第9回研究発表会報告)
竜一 高際
,
渉 山本
,
和巳 金子
,
清 二川
,
和幸 鈴木
2001
引用:23
引用
AI阅读
加入学术空间
13
ケーススタディ IR-OBIRCH法による故障解析事例
和幸 森本
,
伸哉 曽根
,
清 二川
2000
引用:23
引用
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加入学术空间
14
レーザビームとSQUID磁束計を組み合わせた新しい非破壊・非接触チップ検査・解析技術 : 走査レーザSQUID顕微鏡
清 二川
,
彰二 井上
2000
combinatorial pattern matching(2000)
引用:23
引用
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加入学术空间
15
OBIRCHとTEMによる極薄高低抵抗箇所の検出と解析--OBIRCHによる非破壊検出とTEMによる構造解析 (LSIの評価・解析技術特集) -- (製造プロセス評価解析技術)
清 二川
,
彰二 井上
1997
引用:23
引用
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加入学术空间
16
IR-OBIRCH法によるチップ裏面からの観測--Iddq経路およびその物理的原因欠陥の非破壊検出 (LSIの評価・解析技術特集) -- (製造プロセス評価解析技術)
清 二川
,
彰二 井上
1997
引用:23
引用
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加入学术空间
17
LSI故障解析技術( 故障の診断・解析評価・予測)
徹 辻出
,
豊一 中村
,
永二 小西
,
清 二川
,
弘幸 浜田
1996
引用:23
引用
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加入学术空间
18
レ-ザビ-ム照射加熱を用いたLSIの故障解析--感度向上,選択走査および近赤外線利用の試み (半導体デバイス特集) -- (基盤技術)
清 二川
,
彰二 井上
1996
引用:22
引用
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加入学术空间
19
電位像を用いた故障箇所絞り込み--ロジックLSIの故障絞り込み手法(ICFAN)の開発 (LSIの故障解析技術 --故障箇所の絞り込みと特定化技術)
豊一 中村
,
康子 花釜
,
清 二川
1993
引用:23
引用
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加入学术空间
20
集束イオンビ-ム(FIB)を用いた故障解析技術 (LSIの故障解析技術 --故障箇所の絞り込みと特定化技術)
清 二川
,
晴子 為我井
1993
引用:23
引用
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合作学者
合作机构
D-Core
合作者
学生
导师
zhang er jing shang (彰二 井上)
合作论文数
5
ke jie san pu (克介 三浦)
合作论文数
4
jiang si shan xia (将嗣 山下)
合作论文数
4
xing zhi zhong qian (幸治 中前)
合作论文数
4
zheng ji dou nei (政吉 斗内)
合作论文数
3
tianqi ming (明 田崎)
合作论文数
2
zhe zai jiu jing (哲哉 酒井)
合作论文数
2
li yi zhong cun (豊一 中村)
合作论文数
2
he xing ling mu (和幸 鈴木)
合作论文数
2
huang dao chuan lai (晃道 川瀬)
合作论文数
2
zhi xing da gu (知行 大谷)
合作论文数
2
yi ren zhong ye (儀人 中野)
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1
shuo tai lang fu shan (朔太郎 富山)
合作论文数
1
yi bo yu tang (義博 御堂)
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1
shen yan he tian (伸彦 和田)
合作论文数
1
bo si chi sui (博司 赤穂)
合作论文数
1
jun shou zeng tian (俊壽 増田)
合作论文数
1
dubian yi (一 渡辺)
合作论文数
1
zhao yan yi tian (昭彦 益田)
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1
shanben she (渉 山本)
合作论文数
1
songben che (徹 松本)
合作论文数
1
相似学者
zhang er jing shang
ke jie san pu
jiang si shan xia
xing zhi zhong qian
zheng ji dou nei
tianqi ming
zhe zai jiu jing
li yi zhong cun
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