Материалы MnBi2Te4, Mn(Bi,Sb)2Te4 и MnBi2Te4(Bi2Te3)m (где m ≥ 1) относятся к классу магнитных топологических изоляторов. Для успешного применения данных материалов в устройствах наноэлектроники необходимо всестороннее изучение их электронной структуры и магнитных свойств в зависимости от соотношения атомов Bi/Sb и количества (m) блоков Bi2Te3. Изучались магнитные свойства поверхности соединений MnBi2Te4, MnBi4Te7 и Mn(Bi1–xSbx)2Te4 (где x = 0.43, 0.32) при помощи магнитооптического эффекта Керра. Показано, что температуры магнитных переходов на поверхности и в объеме MnBi4Te7 и Mn(Bi,Sb)2Te4 существенно различаются.

Уважаемые коллеги!Благодарим Вас за проявленный интерес к Четвертой российской конференции «Графен: молекула и 2D кристалл» и желание принять участие в её работе.Конференция проходит в научно-образовательном центре города Новосибирска -Академгородке.Мероприятие посвящено актуальным направлениям исследований и разработок в области углеродных и низкоразмерных материалов.Проведение конференции поможет координации усилий ученых в решении современных проблем материаловедения и привлечению молодых исследователей для решения актуальных научных задач.Оргкомитет выражает особую благодарность НГУ, Центру компетенций НТИ «Моделирование и разработка новых функциональных материалов с заданными свойствами», компаниям «Диаэм», «НТ-МДТ Спектрум Инструментс» и корпорации "Графеновая Долина" за финансовую поддержку и журналам Аналитика, Наноиндустрия и РЭНСИТ за информационную поддержку.Искренне надеемся, что пребывание в Новосибирском Академгородке и в стенах Новосибирского государственного университета оставит множество положительных эмоций и

It is shown that fluorine-containing anodic layers on the n-InAs(001) surface, in contrast to fluorine-free anodic layers, form an interface with unpinned Fermi level, the density of states on which near the midgap is about 1011 eV-1cm-2 (78 K ). The study of the chemical composition showed that the decrease in the density of states is associated with the formation of indium and arsenic oxyfluorides near the interface.

It is shown that fluorine-containing anodic layers on the n-InAs(001) surface, in contrast to fluorine-free anodic layers, form an interface with unpinned Fermi level, the density of states on which near the midgap is about 1011 eV-1cm-2 (78 K ). The study of the chemical composition showed that the decrease in the density of states is associated with the formation of indium and arsenic oxyfluorides near the interface.

Уважаемые коллеги!Благодарим Вас за проявленный интерес к Четвертой российской конференции «Графен: молекула и 2D кристалл» и желание принять участие в её работе.Конференция проходит в научно-образовательном центре города Новосибирска -Академгородке.Мероприятие посвящено актуальным направлениям исследований и разработок в области углеродных и низкоразмерных материалов.Проведение конференции поможет координации усилий ученых в решении современных проблем материаловедения и привлечению молодых исследователей для решения актуальных научных задач.Оргкомитет выражает особую благодарность НГУ, Центру компетенций НТИ «Моделирование и разработка новых функциональных материалов с заданными свойствами», компаниям «Диаэм», «НТ-МДТ Спектрум Инструментс» и корпорации "Графеновая Долина" за финансовую поддержку и журналам Аналитика, Наноиндустрия и РЭНСИТ за информационную поддержку.Искренне надеемся, что пребывание в Новосибирском Академгородке и в стенах Новосибирского государственного университета оставит множество положительных эмоций и

Уважаемые коллеги!Благодарим Вас за проявленный интерес к Четвертой российской конференции «Графен: молекула и 2D кристалл» и желание принять участие в её работе.Конференция проходит в научно-образовательном центре города Новосибирска -Академгородке.Мероприятие посвящено актуальным направлениям исследований и разработок в области углеродных и низкоразмерных материалов.Проведение конференции поможет координации усилий ученых в решении современных проблем материаловедения и привлечению молодых исследователей для решения актуальных научных задач.Оргкомитет выражает особую благодарность НГУ, Центру компетенций НТИ «Моделирование и разработка новых функциональных материалов с заданными свойствами», компаниям «Диаэм», «НТ-МДТ Спектрум Инструментс» и корпорации "Графеновая Долина" за финансовую поддержку и журналам Аналитика, Наноиндустрия и РЭНСИТ за информационную поддержку.Искренне надеемся, что пребывание в Новосибирском Академгородке и в стенах Новосибирского государственного университета оставит множество положительных эмоций и

A prototype of a metal–insulator–semiconductor field-effect transistor based on PbSnTe:In/(111)BaF2 film with an Al2O3 gate dielectric was designed for the first time. With the gate voltage applied in the range – 7.7 V < Ugate < +7.7 V the relative modulation in the drain-source current Ids/Ids attained near five-fold change at T = 4.2 K. When illuminated with rela-tively low (~100 photon/s) fluxes, negative photoconductivity was detected accompanied with a decrease in Ids by ~104 times and a simultaneous decrease in Ids by ~103 times or even more. The estimated detectivity was about 71016 cmHz0.5W-1 at a wavelength  about 25 micron with the accumulation time about 0.5 s. A qualitative model is discussed which assumes the ex-istence of deep traps and a photo-capacitance effect.

Предварительная химическая обработка и очистка поверхности является одной из ключевых операций в полупроводниковых технологиях. Развитие методов подготовки поверхности теллурида кадмия–ртути (КРТ, HgCdTe) является актуальной задачей в связи с широким спектром существующих и потенциальных применений этого материала в фотоэлектронике. С помощью методов РФЭС и АСМ в работе исследовалось влияние различных химических обработок на химический состав и микрорельеф поверхности HgCdTe. Среди всех рассмотренных травителей только водный аммиак эффективно удаляет собственный оксид КРТ, не оставляет поверхностного слоя металлического теллура, и обеспечивает близкий к стехиометрии химический состав поверхности. Предложено оптимальное время обработки в водном аммиаке.

Results on the creation and properties of transistor-type MIS structures (MIST) with an Al2O3 thin-film gate dielectric based on PbSnTe:In films obtained by molecular beam epitaxy are presented. The source-drain current-voltage characteristics (CVC) and gate characteristics of the MIST at Т = 4.2 К have been investigated. It is shown that in MIST based on PbSnTe:In films with n ~ 1017 cm-3 the modulation of the channel current reaches 7 – 8 % in the range of gate voltages – 10 V < Ugate < + 10 V. The features of the source-drain CVC and the gate characteristics for a pulsed and sawtooth variation of Ugate are considered.

ФД ИК диапазона широко используются в системах формирования теплового изображения источника и «сцены». Их важнейшим параметром является не только температурное разрешение, но и допустимая средняя температура «сцены». Очевидно, что чем больше кр, тем меньшая температура «сцены» может регистрироваться. В работе представлены результаты прямых измерений параметров макетов детекторов с большими ф при Т = 4,2 К к излучению АЧТ с ТАЧТ < 80 К в условиях сверхнизкого фонового потока. Подобные условия могут реализовываться, например, при наблюдении за удаленными объектами Солнечной системы. При ТАЧТ = 70 К получено значение температурного разрешения Т < 0,0007 К, соответствующее интегральной обнаружительной способности по этому источнику D* > 1014 смГц0,5Вт-1 . Рассмотрены механизмы фоточувствительности, оценено значение кр и возможность управления ф в PbSnTe:In-фотодетекторах на основе впервые созданных МДП-структур с Al2O3 подзатворным диэлектриком. В качестве иллюстрации на рисунке показано изменение тока канала структуры этого типа под действием освещения в условиях малых потоков фотонов Ф.

The topology of the surface of epitaxial films of lead tin telluride solid solution, including those with the addition of indium (Pb1-xSnxTe:In), grown on single-crystal BaF2 (111) substrates and a CaF2/BaF2 buffer layer on Si (111) was studied by atomic force microscopy. It is shown that the characteristic statistical indicators of the relief are due to the peculiarities of film growth and the mechanism of incorporation of Indians, the excess content of which was registered on the surface ex situ by X-ray photoelectron spectroscopy.

The characteristics of MIS structures based on insulating PbSnTe:In films with compositions in the vicinity of a band inversion grown by molecular beam epitaxy (MBE) were studied. It has been shown that a number of their features can be caused by a ferroelectric phase transition with a Curie temperature in the range T ≈ 15–20 K.

It was shown for the first time that Co subnanometer coaverage, being deposited by molecular beam epitaxy method onto the (0001) surface of the BiSbTeSe2 topological insulator at 330 °C, opens an energy band gap in the spectrum of topological surface states in the region of the Dirac point, with a shift in the position of the Dirac point caused by preliminary deposition of the adsorbate at room temperature. The gap band width is 21 +/- 6 meV. Temperature-dependent measurements in the 15-150 K range did not show any width changes.

AbstractThe features of transient processes under the field effect in PbSnTe:In films with a variation in the current up to a factor of 10^5 are studied at helium temperatures. These features qualitatively correspond to a model, in which a high concentration of traps with different parameters is present on the PbSnTe:In surface. The role of the surface is confirmed by a strong variation in the experimental characteristic after the chemical removal of native oxides from the PbSnTe:In surface and its passivation by an Al_2O_3 layer.

AbstractHigh-resistance Pb_1 –_ x Sn_ x Te〈In〉 layers grown by molecular beam epitaxy on BaF_2(111) substrates with compositions close to band inversion have been investigated. The I–V characteristics and relaxation dependences of the photocurrent of the structures in dependence on the chemical surface treatment and subsequent exposure of the samples in air have been examined. It has been observed that the characteristics significantly transform depending on the physicochemical surface state. It has been found that the chemical surface treatment in the hydrochloric acid solution in isopropyl alcohol leads to an increase in the current by up to four orders of magnitude with the subsequent recovery of the I–V characteristics upon exposure of the samples in air for several days.