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1Improvements and Analysis of Neutron Induced Soft Error and Latch-up in High Speed Full CMOS 6T SRAM Products Up to 65nm Technology

Soon -Moon Jung,Hoon Lim,Wonseok Cho,Jaehun Jeong,Youngseop Rah, Jaekyun Park,Keunho Lee,Jiyeon Lee, Kyungsik Cha,Chulsoon Chang,Youngchul Jang,Kinam Kim

2004Extended Abstracts of the 2004 International Conference on Solid State Devices and Materials（2004）

引用

AI阅读

212: 10 B-4-4 Improvements and Analysis of Neutron Induced Soft Error and Latch-up in High Speed Full CMOS 6T SRAM Products up to 65nm Technology

SM Jung,H Lim,W Cho,J Jeong,Y Rah,J Park,K Lee,J Lee,K Cha

2004

引用

AI阅读

作者统计

合作学者

合作机构

D-Core

合作者
学生
导师

jong hyurk park合作论文数2

Kinam Kim合作论文数Samsung Advanced Institute of Technology1

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页面数据均来自互联网公开来源、合作出版商和通过AI技术自动分析结果，我们不对页面数据的有效性、准确性、正确性、可靠性、完整性和及时性做出任何承诺和保证。若有疑问，可以通过电子邮件方式联系我们：report@aminer.cn

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