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2023 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE)pp.152-158, (2023)
Yash Patel,Joshua Baur, Jonathan Scholl,Adam R. Waite,Adam Kimura,John Kelley,Richard Ott, Glen David Via
Adam R. Waite,Yash Patel,John J. Kelley,Jonathan H. Scholl,Joshua Baur,Adam Kimura, Eric D. Udelhoven,Glen David Via,Richard Ott, Daniel L. Brooks
2021 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE)pp.1-6, (2021)
2020 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE)pp.1-5, (2020)
2020 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE)pp.1-6, (2020)
International Symposium for Testing and Failure AnalysisISTFA 2020: Papers Accepted for the Planned 46th International Symposium for Testing and Failure Analysis (2020)
Shanee Pacley,Jianjun Hu,Michael L. Jespersen, Al M. Hilton,Adam Waite, Jacob Brausch, Emory Beck-Millerton,Andrey A. Voevodin
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