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2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)pp.1-6, (2024)
Hans Tuinhout, Oliver Dieball
2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS)pp.1-6, (2023)
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERSno. 6 (2023): 2229-2242
Noise in Nanoscale Semiconductor Devicespp.495-516, (2020)
T. V. Dinh, M. Raucoules-aime, S. Dal Toso, C. Ghidini, B. W. C. Hovens, M. Vroubel, I. Brunets,H. P. Tuinhout, L.T.F. Tiemeijer, N. Wils, G. T. Sasse, P. Grudowski
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